CISC Semiconductor基于最新RAIN RFID读写器性能测试流程的首款 CISC RFID Xplorer – Reader Tester 现已上市。
该工具用于测量RAIN RFID UHF 读写器，包含了读卡器性能参数的测量，如接收灵敏度，和读卡器一致性测试。其内置监听功能为空气界面提供全面的分析，以支持读卡器应用设置的优化。该工具可分析RFID读写器和标签信号，实时完成读写器指令和标签响应的探测及解码。
CISC RFID Xplorer借助其仿真功能，模拟实际的RAIN RFID UHF 标签以用于分析、验证和优化RFID系统安装或单个RFID读写器。
标签仿真器克服了标准RFID标签的限制，可用于RFID应用程序和RFID读卡器的测试和研发支持。它可允许标签参数彻底变化并超过标准RFID标签的有效容限。这结果可拓展超出标准极限的测试，也即由于参数修改的限制，以至于其不可在RFID标签的特性中设置。为了支持如RFID读写器研发和RFID系统评估等任务，它可提供可调的标签特性和拓展记录的可能性。
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诚挚地，
CISC Semiconductor
