从40G时代发展到400G网络时代，DAC无源铜缆一直在数据中心通信链路起着举足轻重的作用，其低功耗低成本的优势也延用到现在的800G，但随着速率和带宽的不断攀升也导致DAC的传输距离的显著减短。而AOC作为数据中心的长距传输媒质，由于其高功耗和高成本无法成为中端距传输的优秀替代者。在这个需求的驱动的下，我们通信线缆生产商在数据中心、芯片厂商的配合及推动下推出了适合中短距传输的有源铜缆，他们DAC的短距传输做了延申，也完成了AOC可做的中短距传输同时保持低功耗和低成本。

现在市场上两种有源铜缆ACC和AEC，ACC-Active Copper Cable是使用Redriver芯片架构在Rx端通过CTLE均衡调整增益的一种有源铜缆，通俗的说更像一根通过放大模拟信号的有源线缆。而AEC-Active Electrical Cable是更加新颖使用retimer芯片结构的有源铜缆，这种有源铜缆不单单放大和均衡Tx和Rx端，它还会在Rx端重新做信号整形。

Redriver设计和眼图

Retimer设计及眼图

源于 :   https://www.intel.com/content/www/us/en/io/serial-bus-white-paper.html

MultiLane作为一个用于创新聚焦于前沿科技的公司，紧跟时代步伐加入了HiWire联盟，迅速了解客户ACC和AEC在数据中心中应用及难点，打造了业届不可多得分别针对ACC或AEC的测试解决方案。

AEC测试系统：MultiLane基于HiWire的AEC测试参数规范，用MultiLane特定仪器打造出AEC的测试系统。它囊括了CMIS验证、Linkup能力实时Pre-和Post-FEC测量，并可自动产生测试报告，特别适合来料检测、RMA、供应商验证及生产测试。同样的配置也可以用于ACC和AOC的测试。

用两台ML4054B进行400G AEC测试

ACC参数测试方案：ACC测试规范标准还没建立，MultiLane已经基于如今在用的通用测试参数如频率、时域测量包括眼图优化、插损和误码率打造了一个全新的测试方案。根据客户的特殊应用环境，使用MultiLane特定的误码仪和示波器可以测量之前所有参数的组合。这些信号综合参数可以对有源铜缆性能进行微调来平衡IC设置和线缆参数，以达到数据中心的实际应用需求。

ACC综合参数测量及微调