在现代高速数据互联通信中，除了光模块在长距、中距和短距数据传输中发挥着重要作用，30米以内的短距离传输还可能选用AOC、ACC等有源cable，而数据中心机架内部之间的短距离直连更会选用低功耗、低成本的DAC无源cable。

       MultiLane在对数据互联的测试解决方案中，除了拥有能满足光模块测试的误码仪、光电采样示波器和测试板等相应方案，还拥有一款强大的三合一设备，既能满足AOC、ACC等有源cable的测试需求，也能满足无源DAC cable的测试需要，这就是之前我们有在TIA/RF Driver测试方案中提到的ML4035综合测试设备。ML4035由4个35GHz的电采样示波器/TDR通道，4个高达56GBd PAM4的PPG通道及4个高达56GBd PAM4 ED通道组成。

       ML4035几乎涵盖DAC无源cable标准测试里的所有S参数，其中包括Impedance、Return Loss、Insertion loss、FEXT、NEXT、ICN及COM等，覆盖10G-800G的DAC测量。在测量S参数的同时，由于其拥有35GHz的电采样示波器，还可以自建电眼模板进行电眼margin、眼高等参数的测量，让测试结果更加精准。ML1105是MultiLane帮生产客户开发的自动化DAC测试程序，将所有测试相关的参数、校准及文件保存等内容都已经写好在程序里，客户直接按步骤操作测试即可以完成测量，最后生成测试报告。

       ML4035的多通道测试设备与传统的VNA+RF switch的DAC测量方式相比，由于多通道并行测量提高了测试效率与速度，并增加了更多测试项目的可能性，如实际测量电眼图及误码率。同时成本也远远优于传统的测试方案，DAC cable快速测量的理想选择。

       除了DAC无源cable的测量，ML4035也是ACC及AOC有源cable测试的不二之选。前端工序，ML4035可以对ACC的铜缆裸线进行S参数及Delay的测量，对AOC的模块进行误码验证。当ACC或AOC组装完成以后，ML4035除了做传统的误码检测以外，还可以进行每个通道的真实电眼的测量及焊接错位检测，这样大大提高了ACC、AOC的品质准确率。特别像QDD、SFP-DD及DSFP等高速AOC，传统误码检测可能已经满足不了测试需求，ML4035误码仪、TDR及电采样示波器的完美结合，让产品品质得到了保障。