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MultiLane DAC无源及ACC、AOC有源cable测试方案
发布时间:2021-03-09  点击量:  来源:数据中心测试方案
 

在现代高速数据互联通信中,除了光模块在长距、中距和短距数据传输中发挥着重要作用,30米以内的短距离传输还可能选用AOCACC等有源cable,而数据中心机架内部之间的短距离直连更会选用低功耗、低成本的DAC无源cable

MultiLane在对数据互联的测试解决方案中,除了拥有能满足光模块测试的误码仪、光电采样示波器和测试板等相应方案,还拥有一款强大的三合一设备,既能满足AOCACC等有源cable的测试需求,也能满足无源DAC cable的测试需要,这就是之前我们有在TIA/RF Driver测试方案中提到的ML4035综合测试设备。ML4035435GHz的电采样示波器/TDR通道,4个高达56GBd PAM4PPG通道及4个高达56GBd PAM4 ED通道组成。

ML4035几乎涵盖DAC无源cable标准测试里的所有S参数,其中包括ImpedanceReturn LossInsertion lossFEXTNEXTICNCOM等,覆盖10G-800GDAC测量。在测量S参数的同时,由于其拥有35GHz的电采样示波器,还可以自建电眼模板进行电眼margin、眼高等参数的测量,让测试结果更加精准。ML1105MultiLane帮生产客户开发的自动化DAC测试程序,将所有测试相关的参数、校准及文件保存等内容都已经写好在程序里,客户直接按步骤操作测试即可以完成测量,最后生成测试报告。

ML4035的多通道测试设备与传统的VNA+RF switchDAC测量方式相比,由于多通道并行测量提高了测试效率与速度,并增加了更多测试项目的可能性,如实际测量电眼图及误码率。同时成本也远远优于传统的测试方案,DAC cable快速测量的理想选择。

 

       除了DAC无源cable的测量,ML4035也是ACC及AOC有源cable测试的不二之选。前端工序,ML4035可以对ACC的铜缆裸线进行S参数及Delay的测量,对AOC的模块进行误码验证。当ACC或AOC组装完成以后,ML4035除了做传统的误码检测以外,还可以进行每个通道的真实电眼的测量及焊接错位检测,这样大大提高了ACC、AOC的品质准确率。特别像QDD、SFP-DD及DSFP等高速AOC,传统误码检测可能已经满足不了测试需求,ML4035误码仪、TDR及电采样示波器的完美结合,让产品品质得到了保障。



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