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TIA及RF driver芯片测试方案
发布时间:2020-10-27  点击量:  来源:光电通信测试方案

跨阻放大器(TIA)及RF driver芯片不论今天还是未来都是光模块输出信号质量好坏的重要器件。对于TIA、RF driver的特性的测量包括频域和时域,传统的测试方法会使用矢量网络分析仪或采样示波器等方式来进行3dB带宽、线性度和设备噪音等的测量,这些测试方法通道数量有限对于多通道TIA测量不得不多次切换通道影响测试效率,同时这种配合也价格不菲。

MultiLane根据客户的需求开发了TIA芯片测试套件即减少了测试时间也提高了测试效率,并能保证测试的准确性。在实验室的应用当中,ML4035集误码仪、采样示波器及网分功能三为一体的4通道多用途高速测试设备,可称之为高速信号测量的万用表。

当测量TIA或RF Driver时,可通过S参数测量功能测试信号链路的损耗,如射频线缆、PCB trace、连接器等。同时将S参数代入后进行实际的S参数测量,得到正确的Sdd21 vs Gain/3dB Bandwidth。在给定的范围内,可变增益放大器和TIA的输出随着输入线性变化,一些RF放大器和TIA具有带宽控制输入,必须对其影响进行分析。

ML4035还可以根据客户的不同需求分析,阻抗、回损等相关的频域特性参数。

THD作为TIA的重要指标,可以通过ML4035的PPG产生正弦波,经过TIA后通过采样示波器的频域转化测量功能测量THD的数值。

线性度RLM及Noise的测量同样可以通过BERT及采样示波器的功能,进行基于IEEE802.3的RLM进行测量,没有任何输入的TIA真实noise测量。作为一个多功能的解决方案除了能满足各类TIA、RF Driver的实验室参数测量,产线测试速度也是ML4035的一大特点,通过API编程只要4、5秒的时间就能完成带宽、THD和noise的测量。

同时,MultiLane还提供ATE测试方案,可对TIA、RF driver、SerDes及计算机相关高速接口进行晶圆等级的测试,可以同时进行32个通道的测量,大大的增加了测试的吞吐量。

在TIA及RF Driver芯片上,MultiLane不论在实验室还是芯片产测都为用户提供了不同方案的可能,迅速提高客户的研发及生产速度。

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